| 加工定制：是 | 产品类别：全新 | 品牌：SINTEK |
| 型号：STEG-002 | 实验类型：作物培养实验 | 适用领域：农业 |
| 使用环境：0-35度 | 外型尺寸(mm)：50x5x5cm | 灵敏度：1% |
| 稳定度：2% |
STEG-002植物叶面积指数测定仪是上海鑫态公司推出的测量植物冠层图像参数的生理生态专业仪器。本冠层图像分析仪性能***、携带轻便、测量快速、操作方便，能满足您不同工作环境的多种需求。广泛应用于农艺、植物、林业等生理生态方面研究，提供了关于影响田间作物生长（小麦，水稻，冠丛及林地等）的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）和植物光合有效辐射（PAR）。
产品用途：
? 测算植物叶面积指数LAI, 植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光
系数，和叶片平均倾角等
? 应用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析
? 应用于不同植物群体结构的比较
? 应用于农田作物群体生长过程进行动态监测
? 应用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学
? 应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学
分析原理：
STEG-002植物叶面积指数测定仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，测算出植物冠层结构参数。该方法是各类方法中最***和最省力、省时、快捷方便的方法。
技术指标：
? 分析范围：0～2000μmol/m2?s
? 品 牌：SINTEK（引进***）
? 镜头角度：主机STEG-002的鱼眼镜头角度为最宜适的150°（180°鱼眼镜头经常不适合
孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件，用于冠层结构分析是不适宜和不经济的）
? 分辨率： 765×490pix
? 测量范围：天顶角范围 0°～75°（150°鱼眼镜头）可分割十个区域。
方位角 360°同样可分割成十个区域。
? 光合有效辐射PAR分析范围：400～700nm
? 内 存：128兆以上
? 电 池：利用电脑供电
? 重 量：1.5KG
? 传输接口：USB
? 工作温度：0～50℃
? 标准配置：便携式冠层图像摄相主机STEG-002（1no），光合有效辐射PAR测量杆(1no)，SINTEK通讯软件，下载数据线(1no)，便携背带（1no），操作说明书（1no），装箱单（1no），合格证（1no）。
? 产 地：上海
